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    Titel:

    Prediction of system reliability using failure types of components based on Weibull lifetime distribution

    Beteiligte:

    Go, H. Y. (Autor:in) / Sung, S. I. (Autor:in) / Kim, Y. S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF MECHANICAL SCIENCE AND TECHNOLOGY ; 32 ; 2463-2471

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2018

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    1738-494X

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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