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    Titel:

    A Defect Evaluation Methodology Based on Multiple Magnetic Flux Leakage (MFL) Testing Signal Eigenvalues

    Beteiligte:

    Sun, Yanhua (Autor:in) / Liu, Shiwei (Autor:in) / Ye, Zhijian (Autor:in) / Chen, Shaobo (Autor:in) / Zhou, Qian (Autor:in)

    Erschienen in:

    Research in nondestructive evaluation ; 27 ; 1-25

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2016

    Format / Umfang:

    25 pages

    ISSN:

    0934-9847

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.112705

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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