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    Titel:

    A new Fourier-related double scale analysis for wrinkling analysis of thin films on compliant substrates

    Beteiligte:

    Huang, Qun (Autor:in) / Yang, Jie (Autor:in) / Huang, Wei (Autor:in) / Liu, Yin (Autor:in) / Hu, Heng (Autor:in) / Giunta, Gaetano (Autor:in) / Belouettar, Salim (Autor:in)

    Erschienen in:

    Composite structures ; 160 ; 613-624

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2017

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0263-8223

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  624.18

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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