Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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AFM characterization of patterned sapphire substrate with dense cone arrays: Image artifacts and tip-cone convolution effect
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Shen, Jian (Autor:in) / Zhang, Dan (Autor:in) / Zhang, Fei-Hu (Autor:in) / Gan, Yang (Autor:in)
Applied surface science ; 433 ; 358-366
01.01.2018
9 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
620.44
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