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    Titel:

    Angle resolved XPS for selective characterization of internal and external surface of porous silicon

    Beteiligte:

    Lion, Anna (Autor:in) / Laidani, Nadhira (Autor:in) / Bettotti, Paolo (Autor:in) / Piotto, Chiara (Autor:in) / Pepponi, Giancarlo (Autor:in) / Barozzi, Mario (Autor:in) / Scarpa, Marina (Autor:in)

    Erschienen in:

    Applied surface science ; 406 ; 144-149

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2017

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.44

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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