Investigation on structural and optoelectronic properties of in-situ post growth annealed ZnSnN2 thin films: Fid-Bau Portal

Investigation on structural and optoelectronic properties of in-situ post growth annealed ZnSnN2 thin films

Chinnakutti, Karthik Kumar / Panneerselvam, Vengatesh / Thankaraj Salammal, Shyju

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Titel:

Investigation on structural and optoelectronic properties of in-situ post growth annealed ZnSnN2 thin films

Beteiligte:

Chinnakutti, Karthik Kumar (Autor:in) / Panneerselvam, Vengatesh (Autor:in) / Thankaraj Salammal, Shyju (Autor:in)

Erschienen in:

Materials science in semiconductor processing ; 89 ; 234-239

Erscheinungsdatum:

01.01.2019

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

1369-8001

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.38152

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