High resolution boron content profilometry at δ-doping epitaxial diamond interfaces by CTEM: Fid-Bau Portal

High resolution boron content profilometry at δ-doping epitaxial diamond interfaces by CTEM

Piñero, J.C. / Lloret, F. / Alegre, M.P. / Villar, M.P. / Fiori, A. / Bustarret, E. / Araújo, D.

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Titel:

High resolution boron content profilometry at δ-doping epitaxial diamond interfaces by CTEM

Beteiligte:

Piñero, J.C. (Autor:in) / Lloret, F. (Autor:in) / Alegre, M.P. (Autor:in) / Villar, M.P. (Autor:in) / Fiori, A. (Autor:in) / Bustarret, E. (Autor:in) / Araújo, D. (Autor:in)

Erschienen in:

Applied surface science ; 461 ; 221-226

Erscheinungsdatum:

01.01.2018

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.44

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