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    Titel:

    Intensity analysis of polarized Raman spectra for off axis single crystal silicon

    Beteiligte:

    Ramabadran, Uma (Autor:in) / Roughani, Bahram (Autor:in)

    Erschienen in:

    Materials science & engineering B ; 230 ; 31-42

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2018

    Format / Umfang:

    12 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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