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    Titel:

    Electronic properties of defects induced by hydrogen and helium radiation on Weyl semimetal niobium arsenic

    Beteiligte:

    Zhang, Zhao-Jun (Autor:in) / Fu, Yan-Long (Autor:in) / Cheng, Wei (Autor:in) / Zhang, Feng-Shou (Autor:in)

    Erschienen in:

    Computational materials science ; 160 ; 9-15

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2019

    Format / Umfang:

    7 pages

    ISSN:

    0927-0256

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.1

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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