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Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials II : symposium held April 19 - 20, 1990, San Francisco, California, USA
Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials II : symposium held April 19 - 20, 1990, San Francisco, California, USA
Specimen preparation for transmission electron microscopy of materials II : symposium held April 19 - 20, 1990, San Francisco, California, USA
1990
xi, 347 p
24 cm
ill
Includes bibliographical references and indexes
Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
Konferenzband
Englisch
DDC:
620.1/1299