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Entwicklung eines statischen Messgerätes für die Messung der Ebenheit im Querprofil (SQM) : Schlussbericht zum Forschungsauftrag 4/79
Entwicklung eines statischen Messgerätes für die Messung der Ebenheit im Querprofil (SQM) : Schlussbericht zum Forschungsauftrag 4/79
Entwicklung eines statischen Messgerätes für die Messung der Ebenheit im Querprofil (SQM) : Schlussbericht zum Forschungsauftrag 4/79
Développement d'un appareil de mesures statiques de la planéité transversale (SQM)
Caprez, Markus (Autor:in) / Doupal, Emil (Autor:in) / Scazziga, Iwan (Autor:in)
1994
IV, 26 Bl
30 cm
Ill., graph. Darst
Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
Buch
Deutsch
BKL:
56.24
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