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    Image processing and pattern recognition in remote sensing II : 8 - 9 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA

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    Titel:

    Image processing and pattern recognition in remote sensing II : 8 - 9 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA

    Beteiligte:

    Yasuoka, Yoshifumi / USA, National Aeronautics and Space Administration

    Kongress:

    Conference ; 2004 ; Honolulu, Hawaii

    Erschienen in:

    SPIE proceedings series ; 5657

    Proceedings : P ; 5657

    Erscheinungsdatum:

    2005

    Format / Umfang:

    VIII, 128 S

    ISBN:

    0819456187

    Medientyp:

    Konferenzband

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Schlagwörter:

    Congresses , Remote sensing , Earth sciences

    Klassifikation:

    DDC:  550.287
    BKL:  38.03 Methoden und Techniken der Geowissenschaften / 74.41 Luftaufnahmen, Photogrammetrie / 54.74 Maschinelles Sehen

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