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Zur Stabilität der N-Kanal-Transistoren einer 1[my]m CMOS-Technologie : Nachweismethoden, Einflussfaktoren, Lebensdauerprognosen
Zur Stabilität der N-Kanal-Transistoren einer 1[my]m CMOS-Technologie : Nachweismethoden, Einflussfaktoren, Lebensdauerprognosen
Zur Stabilität der N-Kanal-Transistoren einer 1[my]m CMOS-Technologie : Nachweismethoden, Einflussfaktoren, Lebensdauerprognosen
Dreizner, Andreas (Autor:in)
1990
16 S.
grph. Darst.
Langzeitarchivierung durch Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek
Buch
Deutsch
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