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QUALITY CONTROL OF HIGH PERFORMANCE SUPERCONDUCTOR TAPES
To provide proper quality control of high performance superconductor tapes.SOLUTION: A superconductor tape and method for manufacturing, measuring, monitoring, and controlling the same are disclosed. Embodiments are directed to a superconductor tape which includes a superconductor film overlaying a buffer layer which overlays a substrate. In one embodiment, the superconductor film is defined as having a c-axis lattice constant higher than 11.74 Angstroms. In another embodiment, the superconductor film comprises BaMO3, where M=Zr, Sn, Ta, Nb, Hf, or Ce, and which has a (101) peak of BaMO3 elongated along an axis that is between 60° to 90° from an axis of the (001) peaks of the superconductor film. These and other embodiments achieve well-aligned nanocolumnar defects and thus a high lift factor, which can result in superior critical current performance of the tape in, for example, high magnetic fields.SELECTED DRAWING: Figure 10
【課題】好適な高性能超伝導体テープの品質制御を提供すること。【解決手段】超伝導体テープおよび同一物を製造、測定、監視、および制御するための方法が、開示される。実施形態は、基板を覆うバッファ層を覆う超伝導体フィルムを含む、超伝導体テープを対象とする。一実施形態では、超伝導体フィルムは、11.74オングストロームよりも高いc軸格子定数を有するものとして定義される。別の実施形態では、超伝導体フィルムは、BaMO3を備え、式中、M=Zr、Sn、Ta、Nb、Hf、またはCeであり、これは、超伝導体フィルムの(001)ピークの軸から60°〜90°である軸に沿って伸長されるBaMO3の(101)ピークを有する。これらおよび他の実施形態は、明確に整合されたナノコラム欠陥、したがって、高リフトファクターを達成し、これは、例えば、高磁場内でテープの優れた臨界電流性能をもたらすことができる。【選択図】図10
QUALITY CONTROL OF HIGH PERFORMANCE SUPERCONDUCTOR TAPES
To provide proper quality control of high performance superconductor tapes.SOLUTION: A superconductor tape and method for manufacturing, measuring, monitoring, and controlling the same are disclosed. Embodiments are directed to a superconductor tape which includes a superconductor film overlaying a buffer layer which overlays a substrate. In one embodiment, the superconductor film is defined as having a c-axis lattice constant higher than 11.74 Angstroms. In another embodiment, the superconductor film comprises BaMO3, where M=Zr, Sn, Ta, Nb, Hf, or Ce, and which has a (101) peak of BaMO3 elongated along an axis that is between 60° to 90° from an axis of the (001) peaks of the superconductor film. These and other embodiments achieve well-aligned nanocolumnar defects and thus a high lift factor, which can result in superior critical current performance of the tape in, for example, high magnetic fields.SELECTED DRAWING: Figure 10
【課題】好適な高性能超伝導体テープの品質制御を提供すること。【解決手段】超伝導体テープおよび同一物を製造、測定、監視、および制御するための方法が、開示される。実施形態は、基板を覆うバッファ層を覆う超伝導体フィルムを含む、超伝導体テープを対象とする。一実施形態では、超伝導体フィルムは、11.74オングストロームよりも高いc軸格子定数を有するものとして定義される。別の実施形態では、超伝導体フィルムは、BaMO3を備え、式中、M=Zr、Sn、Ta、Nb、Hf、またはCeであり、これは、超伝導体フィルムの(001)ピークの軸から60°〜90°である軸に沿って伸長されるBaMO3の(101)ピークを有する。これらおよび他の実施形態は、明確に整合されたナノコラム欠陥、したがって、高リフトファクターを達成し、これは、例えば、高磁場内でテープの優れた臨界電流性能をもたらすことができる。【選択図】図10
QUALITY CONTROL OF HIGH PERFORMANCE SUPERCONDUCTOR TAPES
高性能超伝導体テープの品質制御
GORAN MAJKIC (Autor:in) / VENKAT SELVAMANICKAM (Autor:in)
02.12.2021
Patent
Elektronische Ressource
Japanisch
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