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Scattering - Effect of Surface Profile Length on the Backscattering Coefficients of Bare Surfaces

Oh, Y.

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Titel:

Scattering - Effect of Surface Profile Length on the Backscattering Coefficients of Bare Surfaces

Beteiligte:

Oh, Y. (Autor:in) / Hong, J.-Y.

Erschienen in:

IEEE transactions on geoscience and remote sensing ; 45

Erscheinungsdatum:

2007

ISSN:

0196-2892

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Schlagwörter:

Fernerkundung , Zeitschrift , Messtechnik , Elektronik , Geowissenschaften

Klassifikation:

Lokalklassifikation TIB: 770/3710/5670
BKL: 74.41 / 38.03 Methoden und Techniken der Geowissenschaften / 74.41 Luftaufnahmen, Photogrammetrie / 38.03

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