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    Titel:

    In-situ Scanning Tunneling Microscopy in Electrochemistry

    Beteiligte:

    Siegenthaler, H. (Autor:in) / Christoph, R. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Scanning Tunneling Microscopy and Related Methods ; 315-333

    NATO ASI Series ; 184

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1990

    Format / Umfang:

    19 pages

    ISBN:

    978-90-481-4075-6 , 978-94-015-7871-4

    ISSN:

    0168-132X

    DOI:

    https://doi.org/10.1007/978-94-015-7871-4_16

    Medientyp:

    Aufsatz/Kapitel (Buch)

    Format:

    Elektronische Ressource

    Sprache:

    Englisch

    Schlagwörter:

    Experimental Concept , Principal Aspect , Wide Potential Range , Voltage Source Versus , Tunneling Voltage Physics , Physics, general , Surfaces and Interfaces, Thin Films , Physical Chemistry , Biophysics and Biological Physics

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