Spannungsoptische Untersuchung von Biegeplatten mit Hilfe von schiefer Durchstrahlung: Fid-Bau Portal

Spannungsoptische Untersuchung von Biegeplatten mit Hilfe von schiefer Durchstrahlung

Knorr, Ekkart / Technische Hochschule München

Zugriff

Zur UB Braunschweig

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Spannungsoptische Untersuchung von Biegeplatten mit Hilfe von schiefer Durchstrahlung

Knorr, Ekkart / Technische Hochschule München

Spannungsoptische Untersuchung von Biegeplatten mit Hilfe von schiefer Durchstrahlung

Knorr, Ekkart / Technische Hochschule München

Zugriff

Zur UB Braunschweig

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Spannungsoptische Untersuchung von Biegeplatten mit Hilfe von schiefer Durchstrahlung

Beteiligte:

Knorr, Ekkart (Autor:in) / Technische Hochschule München (Grad-verleihende Institution)

Erscheinungsdatum:

1964

Format / Umfang:

16 Seiten

Anmerkungen:

Illustrationen
Ausug

Medientyp:

Hochschulschrift

Format:

Sprache:

Deutsch

Rajnfeld, S. | Engineering Index Backfile | 1934

Spannungsoptische Untersuchung der Spannungsverteilung in Stahlbetonbauteilen : Auszug

Vasconcelos, Augusto Carlos | TIBKAT | 1955

Hoffnungsvolle Ausblicke fuer die Spannungsoptische Untersuchung von Talsperren

Toelke, F. | Engineering Index Backfile | 1938

Hoffnungsvolle Ausblicke fuer die Spannungsoptische Untersuchung von Talsperren

Toelke, F. | Engineering Index Backfile | 1938

Spannungsoptische Untersuchung gekerbter Proben : Untersuchungsbericht, EMPA No. 31075

Eidgenössisches Institut für Reaktorforschung, Würenlingen. / Eidgenössische Materialprüfungs- und Versuchsanstalt für Industrie, Bauwesen und Gewerbe, Dübendorf | TIBKAT | 1975

Nach oben