Simulation of FIB‐SEM Images for Segmentation of Porous Microstructures: Fid-Bau Portal

Simulation of FIB‐SEM Images for Segmentation of Porous Microstructures

Prill, Torben / Schladitz, Katja / Wieser, Christian

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Titel:

Simulation of FIB‐SEM Images for Segmentation of Porous Microstructures

Beteiligte:

De Graef, Marc (Herausgeber:in) / Poulsen, Henning Friis (Herausgeber:in) / Lewis, Alexis (Herausgeber:in) / Simmons, Jeff (Herausgeber:in) / Spanos, George (Herausgeber:in) / Prill, Torben (Autor:in) / Schladitz, Katja (Autor:in) / Wieser, Christian (Autor:in)

Erschienen in:

1<sup>st</sup> International Conference on 3D Materials Science ; 159-164

Erscheinungsdatum:

29.06.2012

Format / Umfang:

6 pages

ISBN:

9781118470398 , 9781118686768

DOI:

https://doi.org/10.1002/9781118686768.ch24

Medientyp:

Aufsatz/Kapitel (Buch)

Format:

Elektronische Ressource

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

scanning electron microscopy , Monte‐Carlo simulation , Boolean model , FIB tomography , materials microstructures , quantitative analysis

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