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소결체 및 알루미나 고용 부분 안정화 지르코니아
입방정 질화붕소와, Al2O3이 결정립계 및 결정립 내의 양쪽 또는 어느 한쪽에 분산된 부분 안정화 ZrO2인 제1 재료를 포함하는 소결체이며, 상기 소결체는, 상기 입방정 질화붕소를 20 체적% 이상 80 체적% 이하 포함하고, 이차 이온 질량 분석법을 이용하여 상기 제1 재료를 측정한 경우, 상기 제1 재료 중에 질소를 0.001 질량% 이상 1 질량% 이하 포함한다.
A sintered material comprises cubic boron nitride and a first material that is a partially stabilized ZrO2 with Al2O3 dispersed therein at crystal grain boundaries and/or in crystal grains, the sintered material comprising 20% by volume or more and 80% by volume or less of the cubic boron nitride, the sintered material comprising 0.001% by mass or more and 1% by mass or less of nitrogen in the first material when the first material is measured through secondary ion mass spectrometry.
소결체 및 알루미나 고용 부분 안정화 지르코니아
입방정 질화붕소와, Al2O3이 결정립계 및 결정립 내의 양쪽 또는 어느 한쪽에 분산된 부분 안정화 ZrO2인 제1 재료를 포함하는 소결체이며, 상기 소결체는, 상기 입방정 질화붕소를 20 체적% 이상 80 체적% 이하 포함하고, 이차 이온 질량 분석법을 이용하여 상기 제1 재료를 측정한 경우, 상기 제1 재료 중에 질소를 0.001 질량% 이상 1 질량% 이하 포함한다.
A sintered material comprises cubic boron nitride and a first material that is a partially stabilized ZrO2 with Al2O3 dispersed therein at crystal grain boundaries and/or in crystal grains, the sintered material comprising 20% by volume or more and 80% by volume or less of the cubic boron nitride, the sintered material comprising 0.001% by mass or more and 1% by mass or less of nitrogen in the first material when the first material is measured through secondary ion mass spectrometry.
소결체 및 알루미나 고용 부분 안정화 지르코니아
HAMA HISAYA (author) / OKAMURA KATSUMI (author) / AMEMIYA MAYU (author) / KUKINO SATORU (author)
2021-02-22
Patent
Electronic Resource
Korean
IPC:
C04B
Kalk
,
LIME
/
B23B
Drehen
,
TURNING
/
C01F
COMPOUNDS OF THE METALS BERYLLIUM, MAGNESIUM, ALUMINIUM, CALCIUM, STRONTIUM, BARIUM, RADIUM, THORIUM, OR OF THE RARE-EARTH METALS
,
Verbindungen der Metalle Beryllium, Magnesium, Aluminium, Calcium, Strontium, Barium, Radium, Thorium oder der Seltenen Erden
/
C01G
Verbindungen der von den Unterklassen C01D oder C01F nicht umfassten Metalle
,
COMPOUNDS CONTAINING METALS NOT COVERED BY SUBCLASSES C01D OR C01F