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PIEZOELECTRIC CERAMIC, CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT, AND PRODUCTION METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC
This piezoelectric ceramic is characterized by containing a perovskite-type compound containing at least Pb, Zr, Ti, Mn, and Nb, wherein, in an X-ray crystal structure analysis chart of the perovskite-type compound, there is not an X-ray diffraction peak bifurcation of a (101) plane for which an X-ray diffraction peak is detected in the 2θ range of 30.5° to 31.5°, which is a main peak of a PZT tetra phase, and a (110) plane for which an X-ray diffraction peak is detected in the 2θ range of 30.8° to 31.8°, and the number of X-ray diffraction peaks appearing on the basis of the (101) plane and the (110) plane is one.
La présente invention concerne une céramique piézoélectrique caractérisée en ce qu'elle contient un composé type pérovskite contenant au moins du Pb, Zr, Ti, Mn, et Nb, où, dans un diagramme d'analyse de structure cristalline des rayons X du composé type pérovskite, il n'existe pas de bifurcation de pic de diffraction des rayons X d'un (101) plan pour lequel un pic de diffraction des rayons X est détecté dans la plage 2θ de 30,5 ° à 31,5 °, qui est un pic principal d'une phase tétra PZT, et d'un (110) plan pour lequel un pic de diffraction des rayons X est détecté dans la plage 2θ de 30,8 ° à 31,8 °, et le nombre de pics de diffraction des rayons X apparaissant sur la base du (101) plan et du (110) plan est d'un.
少なくともＰｂ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ｍｎ及びＮｂを含むぺロブスカイト型化合物を含有し、上記ぺロブスカイト型化合物のＸ線結晶構造解析チャートにおいて、ＰＺＴテトラ相の主ピークである２θ＝３０．５°以上、３１．５°以下の範囲にＸ線回折ピークが検出される（１０１）面と、２θ＝３０．８°以上、３１．８°以下の範囲にＸ線回折ピークが検出される（１１０）面のＸ線回折ピーク分岐が無く、（１０１）面と（１１０）面に基づいて現れるＸ線回折ピークの数が１つであることを特徴とする圧電セラミックス。
PIEZOELECTRIC CERAMIC, CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT, AND PRODUCTION METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC
This piezoelectric ceramic is characterized by containing a perovskite-type compound containing at least Pb, Zr, Ti, Mn, and Nb, wherein, in an X-ray crystal structure analysis chart of the perovskite-type compound, there is not an X-ray diffraction peak bifurcation of a (101) plane for which an X-ray diffraction peak is detected in the 2θ range of 30.5° to 31.5°, which is a main peak of a PZT tetra phase, and a (110) plane for which an X-ray diffraction peak is detected in the 2θ range of 30.8° to 31.8°, and the number of X-ray diffraction peaks appearing on the basis of the (101) plane and the (110) plane is one.
La présente invention concerne une céramique piézoélectrique caractérisée en ce qu'elle contient un composé type pérovskite contenant au moins du Pb, Zr, Ti, Mn, et Nb, où, dans un diagramme d'analyse de structure cristalline des rayons X du composé type pérovskite, il n'existe pas de bifurcation de pic de diffraction des rayons X d'un (101) plan pour lequel un pic de diffraction des rayons X est détecté dans la plage 2θ de 30,5 ° à 31,5 °, qui est un pic principal d'une phase tétra PZT, et d'un (110) plan pour lequel un pic de diffraction des rayons X est détecté dans la plage 2θ de 30,8 ° à 31,8 °, et le nombre de pics de diffraction des rayons X apparaissant sur la base du (101) plan et du (110) plan est d'un.
少なくともＰｂ、Ｚｒ、Ｔｉ、Ｍｎ及びＮｂを含むぺロブスカイト型化合物を含有し、上記ぺロブスカイト型化合物のＸ線結晶構造解析チャートにおいて、ＰＺＴテトラ相の主ピークである２θ＝３０．５°以上、３１．５°以下の範囲にＸ線回折ピークが検出される（１０１）面と、２θ＝３０．８°以上、３１．８°以下の範囲にＸ線回折ピークが検出される（１１０）面のＸ線回折ピーク分岐が無く、（１０１）面と（１１０）面に基づいて現れるＸ線回折ピークの数が１つであることを特徴とする圧電セラミックス。
PIEZOELECTRIC CERAMIC, CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT, AND PRODUCTION METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC
CÉRAMIQUE PIÉZOÉLECTRIQUE, COMPOSANT ÉLECTRONIQUE CÉRAMIQUE, ET PROCÉDÉ DE PRODUCTION DE CÉRAMIQUE PIÉZOÉLECTRIQUE
圧電セラミックス、セラミックス電子部品、及び、圧電セラミックスの製造方法
KANAMORI YUKI (author)
2020-01-23
Patent
Electronic Resource
Japanese
PIEZOELECTRIC CERAMIC, CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT, AND PRODUCTION METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC
| European Patent Office | 2021
PIEZOELECTRIC CERAMIC, CERAMIC ELECTRONIC COMPONENT, AND PRODUCTION METHOD FOR PIEZOELECTRIC CERAMIC
| European Patent Office | 2021
| European Patent Office | 2019
| European Patent Office | 2016
| European Patent Office | 2023