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Electro-optical deflection measuring device
Bisher wurden die durch Bodensenkungen verursachten Neigungen von Haeusern, insbesondere von grossen und hohen Gebaeuden,mit einem Pendel bestimmt, dessen Zeitkonstante sehr gross gehalten wurde. Vorliegend wird ein opto-elektronisches Nachlaufverfahren angegeben, das mit einem Lichtstrahl-Spiegelsystem arbeitet. Die Lichtstrahl-Messlaenge betraegt 30 ... 91 m und der Messfehler liegt bei plus/minus 0,025 mm. Der von einer Photozelle aufgenommene Pruefstrahl gelangt an einen Differenzverstaerker, um dann einem Schreiber zugefuehrt zu werden.Langzeiterprobungen ueber mehrere Monate bewiesen die Systemzuverlaessigkeit. Ueber einzelne Baugruppen macht man naehereAngaben, die durch Systemskizzen verdeutlicht werden.
Electro-optical deflection measuring device
Bisher wurden die durch Bodensenkungen verursachten Neigungen von Haeusern, insbesondere von grossen und hohen Gebaeuden,mit einem Pendel bestimmt, dessen Zeitkonstante sehr gross gehalten wurde. Vorliegend wird ein opto-elektronisches Nachlaufverfahren angegeben, das mit einem Lichtstrahl-Spiegelsystem arbeitet. Die Lichtstrahl-Messlaenge betraegt 30 ... 91 m und der Messfehler liegt bei plus/minus 0,025 mm. Der von einer Photozelle aufgenommene Pruefstrahl gelangt an einen Differenzverstaerker, um dann einem Schreiber zugefuehrt zu werden.Langzeiterprobungen ueber mehrere Monate bewiesen die Systemzuverlaessigkeit. Ueber einzelne Baugruppen macht man naehereAngaben, die durch Systemskizzen verdeutlicht werden.
Electro-optical deflection measuring device
Opto-elektronisches Geeraet zur Messung von Seitenabweichungen
Crist, R.A. (author) / Marshall, R.D. (author) / Laursen, H.I. (author)
1975
19 Seiten, 11 Bilder, 1 Tabelle, 20 Quellen
Report
English
European Patent Office | 2023
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