A platform for research: civil engineering, architecture and urbanism
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Quantitative backscattered electron analysis of cement paste
Sekundärelektronenbilder lassen sich rasterelektronenmikroskopisch aufschlüsseln. Polierte Bruchoberflächen getrockneter Zementproben kann man mit dieser Technik nicht abbilden, weil Politurstaub Lücken auffüllt und Mikrostrukturen beschädigt. Der Wechsel von Sekundärelektronen- zur Rückstreuelektronen(BSE)-Technik ist nötig, weil Sekundärelektronen lediglich topographische Daten preisgeben, die von geglätteten Oberflächen nicht erhältlich sind. Epoxid-imprägnierte Oberflächen sind der BSE-Analysentechnik zugänglich, wobei Ordnungszahlen, Atommassen und Wechselwirkungsbereiche aus Rückstreukoeffizienten zu berechnen sind. Diskutiert werden Signalanregungs-, Kontaktbildungs-, Bildauflösungs- und Abbildungstechniken. Beschrieben wird die Silicium-Magnesium-Standardisierung, mit dessen Hilfe ein SEM- und Bildanalysensystem für quantitative BSE-Phasenanalyse in Zementpaste ermöglicht wird. Um genügend große Aussagewahrscheinlichkeit bei der Bildanalyse zu gewährleisten, benötigt man für nichthydratisierte Zementpartikel die größte, für Calciumsilicathydratphasen die geringste Zahl von Einzelbildern. Phasen lassen sich anhand von Intensitätsunterschieden identifizieren.
Quantitative backscattered electron analysis of cement paste
Sekundärelektronenbilder lassen sich rasterelektronenmikroskopisch aufschlüsseln. Polierte Bruchoberflächen getrockneter Zementproben kann man mit dieser Technik nicht abbilden, weil Politurstaub Lücken auffüllt und Mikrostrukturen beschädigt. Der Wechsel von Sekundärelektronen- zur Rückstreuelektronen(BSE)-Technik ist nötig, weil Sekundärelektronen lediglich topographische Daten preisgeben, die von geglätteten Oberflächen nicht erhältlich sind. Epoxid-imprägnierte Oberflächen sind der BSE-Analysentechnik zugänglich, wobei Ordnungszahlen, Atommassen und Wechselwirkungsbereiche aus Rückstreukoeffizienten zu berechnen sind. Diskutiert werden Signalanregungs-, Kontaktbildungs-, Bildauflösungs- und Abbildungstechniken. Beschrieben wird die Silicium-Magnesium-Standardisierung, mit dessen Hilfe ein SEM- und Bildanalysensystem für quantitative BSE-Phasenanalyse in Zementpaste ermöglicht wird. Um genügend große Aussagewahrscheinlichkeit bei der Bildanalyse zu gewährleisten, benötigt man für nichthydratisierte Zementpartikel die größte, für Calciumsilicathydratphasen die geringste Zahl von Einzelbildern. Phasen lassen sich anhand von Intensitätsunterschieden identifizieren.
Quantitative backscattered electron analysis of cement paste
Quantitative Rückstreu-Elektronenanalyse von Zementpaste
Hong Zhao (author) / Darwin, D. (author)
Cement and Concrete Research ; 22 ; 695-706
1992
12 Seiten, 4 Bilder, 3 Tabellen, 22 Quellen
Article (Journal)
English
ORDNUNGSZAHL , ZEMENT , OBERFLAECHE , EPOXIDHARZ , ELEKTRON , RUECKSTREUUNG , ATOM , RASTERELEKTRONENMIKROSKOP , ENERGIE , SILICIUM , MAGNESIUM , STANDARDABWEICHUNG , WASSER-ZEMENT-WERT , VORIMPRAEGNIERUNG , MASSE (PHYSIKALISCHE GROESSE) , EINFLUSSGROESSE , PHYSIKALISCHE ANALYSENMETHODE , ELEKTRONENBESCHUSS , KALIBRIEREN (ABGLEICHEN)
Statistical analysis of backscattered electron image of hydrated cement paste
| Online Contents | 2016
Microstructure characterization in cement paste using backscattered diffuse ultrasound
| Tema Archive | 2008