Messung und Simulation von Konzentrationsprofilen bei der Trocknung von dünnen Filmen mit Hilfe der Konfokalen‐Mikro‐Raman‐Spektroskopie: Fid-Bau Portal

Messung und Simulation von Konzentrationsprofilen bei der Trocknung von dünnen Filmen mit Hilfe der Konfokalen‐Mikro‐Raman‐Spektroskopie

Schabel, W. S. / Scharfer, P. S. / Kind, M. K.

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Title:

Messung und Simulation von Konzentrationsprofilen bei der Trocknung von dünnen Filmen mit Hilfe der Konfokalen‐Mikro‐Raman‐Spektroskopie

Contributors:

Schabel, W. S. (author) / Scharfer, P. S. (author) / Kind, M. K. (author)

Published in:

Chemie Ingenieur Technik ; 75 ; 1105-1106

Publication date:

2003-08-25

Size:

2 pages

ISSN:

0009-286X , 1522-2640

DOI:

https://doi.org/10.1002/cite.200390274

Type of media:

Article (Journal)

Type of material:

Electronic Resource

Language:

English

Keywords:

Simulation , Transportvorgänge , Filme

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