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    Title:

    On‐line‐Charakterisierung von submikronen Partikeln in hochkonzentrierten Systemen mittels Mobilitätsanalyse

    Contributors:

    Katzer, Matthias (author) / Schmidt, Eberhard (author) / Kasper, Gerhard (author)

    Published in:

    Chemie Ingenieur Technik ; 70 ; 115-119

    Publication date:

    1998-01-01

    Size:

    5 pages

    ISSN:

    0009-286X , 1522-2640

    DOI:

    https://doi.org/10.1002/cite.330700112

    Type of media:

    Article (Journal)

    Type of material:

    Electronic Resource

    Language:

    English

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