Tapping Mode Atomic Force Microscopy Analysis of Electroless-Deposition Process: Fid-Bau Portal

Tapping Mode Atomic Force Microscopy Analysis of Electroless-Deposition Process

Homma, T. / Tanabe, M. / Suzuki, M. / Osaka, T. / Electrochemical Society; Electrodeposition Division

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Titel:

Tapping Mode Atomic Force Microscopy Analysis of Electroless-Deposition Process

Beteiligte:

Homma, T. (Autor:in) / Tanabe, M. (Autor:in) / Suzuki, M. (Autor:in) / Osaka, T. (Autor:in) / Paunovic, M. / Scherson, D. A. / Electrochemical Society; Electrodeposition Division

Kongress:

Symposium; 3rd, Electrochemically deposited thin films ; 1996 ; San Antonio; TX

Erschienen in:

Electrochemically deposited thin films ; 46-54

PROCEEDINGS- ELECTROCHEMICAL SOCIETY PV ; 96-19

Erscheinungsdatum:

01.01.1997

Format / Umfang:

9 pages

ISBN:

1566771692

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

electrodeposition , thin films

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