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    Titel:

    Characterization of Si nanostructured surfaces [3790-16]

    Beteiligte:

    Zaidi, S. H. (Autor:in) / Gee, J. M. (Autor:in) / Ruby, D. S. (Autor:in) / Brueck, S. R. J. (Autor:in) / Lakhtakia, A. / Messier, R. F. / SPIE

    Kongress:

    Conference, Engineered nanostructural films and materials ; 1999 ; Denver; CO

    Erschienen in:

    Engineered nanostructural films and materials ; 151-159

    PROCEEDINGS- SPIE THE INTERNATIONAL SOCIETY FOR OPTICAL ENGINEERING

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISBN:

    0819432768

    ISSN:

    0277-786X

    Medientyp:

    Aufsatz (Konferenz)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Schlagwörter:

    nanostructural films , materials , SPIE

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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