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    Titel:

    Nanostructural Characterization of Amorphous Chalcogenides by X-Ray Diffraction and Positron Annihilation Techniques

    Beteiligte:

    Kavetskyy, T. (Autor:in) / Shpotyuk, O. (Autor:in) / Kaban, I. (Autor:in) / Hoyer, W. (Autor:in) / Filipecki, J. (Autor:in) / Reithmaier, J.P.

    Kongress:

    NATO Advanced Study Institute on Nanostructured Materials for Advanced Technological Applications ; 2008 ; Sozopol, Bulgaria

    Erschienen in:

    NATO Advanced Study Institute on Nanostructured Materials for Advanced Technological Applications ; 365-370

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2009

    Format / Umfang:

    6 pages

    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and index

    ISBN:

    9781402099144 , 9781402099168 , 9781402099151 , 1402099150

    Medientyp:

    Aufsatz (Konferenz)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Schlagwörter:

    Nanostructured materials

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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