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Developments in Metrology in Support of Nanotechnology

Decker, J.E. / Bogdanov, A. / Eves, B.J. / Goodchild, D. / Johnston, L. / Kim, N. / McDermott, M. / Munoz-Paniagua, D. / Pekelsky, J.R. / Wingar, S.

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Titel:

Developments in Metrology in Support of Nanotechnology

Beteiligte:

Decker, J.E. (Autor:in) / Bogdanov, A. (Autor:in) / Eves, B.J. (Autor:in) / Goodchild, D. (Autor:in) / Johnston, L. (Autor:in) / Kim, N. (Autor:in) / McDermott, M. (Autor:in) / Munoz-Paniagua, D. (Autor:in) / Pekelsky, J.R. (Autor:in) / Wingar, S. (Autor:in)

Kongress:

International Symposium; 3rd, Nanotechnology in construction; proceedings of the NICOM3 ; 2009 ; Prague

Erschienen in:

Nanotechnology in construction; proceedings of the NICOM3 ; 71-80

NANOTECHNOLOGY IN CONSTRUCTION

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

10 pages

Anmerkungen:

Includes bibliographical references and index; Same papers on CD-ROM

ISBN:

9783642009792 , 3642009794 , 9783642009808 , 3642009808

Medientyp:

Aufsatz (Konferenz)

Format:

Sprache:

Englisch

Schlagwörter:

Nanotechnology , Beton , Nanostrukturiertes Material , Zement , NICOM , Construction

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