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    Titel:

    The measurement of internal defect in the half-grouted sleeves by low frequency ultrasonics

    Beteiligte:

    Zhang, Lu (Autor:in) / Tang, Yongze (Autor:in) / Zeng, Jiajun (Autor:in) / Liu, Qizhou (Autor:in) / Li, Hongyu (Autor:in)

    Kongress:

    Nondestructive Characterization and Monitoring of Advanced Materials, Aerospace, Civil Infrastructure, and Transportation XVII

    Erschienen in:

    Nondestructive Characterization and Monitoring of Advanced Materials, Aerospace, Civil Infrastructure, and Transportation XVII ; 124870A-124870A-9

    Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering ; 12487

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2023

    Format / Umfang:

    124870A-124870A-9

    ISBN:

    9781510660816

    ISSN:

    0277-786X

    Medientyp:

    Aufsatz (Konferenz)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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