Characterization of Epitaxial High Tc Superconductors Using a Parallel Beam X-Ray Diffractometer: Fid-Bau Portal

Characterization of Epitaxial High Tc Superconductors Using a Parallel Beam X-Ray Diffractometer

Houtman, E. / Ryan, T. W. / David, B. / Doormann, V.

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Titel:

Characterization of Epitaxial High Tc Superconductors Using a Parallel Beam X-Ray Diffractometer

Beteiligte:

Houtman, E. (Autor:in) / Ryan, T. W. (Autor:in) / David, B. (Autor:in) / Doormann, V. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 205

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

205 pages

ISSN:

0376-0308

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 539.7222

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