Investigation of the Influence of Impurities on the Grain Boundary Relaxation in Thin Al-Films on Si-Substrates: Fid-Bau Portal

Investigation of the Influence of Impurities on the Grain Boundary Relaxation in Thin Al-Films on Si-Substrates

Bohn, H. G. / Su, C. M.

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Titel:

Investigation of the Influence of Impurities on the Grain Boundary Relaxation in Thin Al-Films on Si-Substrates

Beteiligte:

Bohn, H. G. (Autor:in) / Su, C. M. (Autor:in) / Magalas, L. B. / Gorczyca, S.

Erschienen in:

Internal Friction and Ultrasonic Attenuation in Solids ; 273

MATERIALS SCIENCE FORUM

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

273 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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