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Single-electron tunneling in double-barrier junctions by scanning tunneling microscopy

Schoenenberger, C. / Van Houten, H. / Kerkhof, J. M. / Donkersloot, H. C.

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Titel:

Single-electron tunneling in double-barrier junctions by scanning tunneling microscopy

Beteiligte:

Schoenenberger, C. (Autor:in) / Van Houten, H. (Autor:in) / Kerkhof, J. M. (Autor:in) / Donkersloot, H. C. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 67 ; 222

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

222 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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