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Method of measurement and analysis of texture in thin films

Szpunar, J. A. / Ahlroos, S. / Tavernier, P.

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Titel:

Method of measurement and analysis of texture in thin films

Beteiligte:

Szpunar, J. A. (Autor:in) / Ahlroos, S. (Autor:in) / Tavernier, P. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE ; 28 ; 2366

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

2366 pages

ISSN:

0022-2461

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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