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    Titel:

    Measurement of the Thermal Stress in Specularly Reflecting Thin Films Using Real-Time Holographic Interferometry

    Beteiligte:

    Radha, T. S. (Autor:in) / Ramprasad, B. S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    NONDESTRUCTIVE TESTING AND EVALUATION ; 8/9 ; 949

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1993

    Format / Umfang:

    949 pages

    ISSN:

    1058-9759

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.1127

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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