Whole wafer assessment of electronic materials by scanning photoluminescence and surface photovoltage: Fid-Bau Portal

Whole wafer assessment of electronic materials by scanning photoluminescence and surface photovoltage

Bugajski, M. / Edelman, P. / Ornoch, J. / Wesolowski, M.

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Titel:

Whole wafer assessment of electronic materials by scanning photoluminescence and surface photovoltage

Beteiligte:

Bugajski, M. (Autor:in) / Edelman, P. (Autor:in) / Ornoch, J. (Autor:in) / Wesolowski, M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 20 ; 186

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

186 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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