Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    XRD and Photoluminescence Whole-Wafer Mapping of 4H-SiC Wafers

    Neue Suche nach: Ryan, T.
    Neue Suche nach: Hennessy, J.
    Neue Suche nach: Harrison, C.
    Neue Suche nach: Wang, S. Y.
    Neue Suche nach: Webster, G.
    Neue Suche nach: Majima, A.
    Neue Suche nach: Wright, N.
    Neue Suche nach: Johnson, C. M.
    Neue Suche nach: Vassilevski, K.
    Neue Suche nach: Nikitina, I.
    Neue Suche nach: Horsfall, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    XRD and Photoluminescence Whole-Wafer Mapping of 4H-SiC Wafers

    Neue Suche nach: Ryan, T.
    Neue Suche nach: Hennessy, J.
    Neue Suche nach: Harrison, C.
    Neue Suche nach: Wang, S. Y.
    Neue Suche nach: Webster, G.
    Neue Suche nach: Majima, A.
    Neue Suche nach: Wright, N.
    Neue Suche nach: Johnson, C. M.
    Neue Suche nach: Vassilevski, K.
    Neue Suche nach: Nikitina, I.
    Neue Suche nach: Horsfall, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    XRD and Photoluminescence Whole-Wafer Mapping of 4H-SiC Wafers

    Neue Suche nach: Ryan, T.
    Neue Suche nach: Hennessy, J.
    Neue Suche nach: Harrison, C.
    Neue Suche nach: Wang, S. Y.
    Neue Suche nach: Webster, G.
    Neue Suche nach: Majima, A.
    Neue Suche nach: Wright, N.
    Neue Suche nach: Johnson, C. M.
    Neue Suche nach: Vassilevski, K.
    Neue Suche nach: Nikitina, I.
    Neue Suche nach: Horsfall, A.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    XRD and Photoluminescence Whole-Wafer Mapping of 4H-SiC Wafers

    Beteiligte:

    Ryan, T. (Autor:in) / Hennessy, J. (Autor:in) / Harrison, C. (Autor:in) / Wang, S. Y. (Autor:in) / Webster, G. (Autor:in) / Majima, A. (Autor:in) / Wright, N. / Johnson, C. M. / Vassilevski, K. / Nikitina, I.

    Erschienen in:

    Silicon Carbide and Related Materials 2006 ; 299-302

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 556/557

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2007

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Characterization of SiC Wafers by Photoluminescence Mapping

    Tajima, M. / Higashi, E. / Hayashi, T. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Micro-Photoluminescence Mapping of Defect Structures in SiC Wafers

    Hennessy, J. / Ryan, T. | British Library Online Contents | 2007

    Defect observation in SiC wafers by room-temperature photoluminescence mapping

    Higashi, E. / Tajima, M. / Hoshino, N. et al. | British Library Online Contents | 2006

    Photoluminescence Mapping of a SiC Wafer in Device Processing

    Tajima, M. / Sugahara, T. / Hoshino, N. et al. | British Library Online Contents | 2004

    Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers

    Zhao, Y. / Sun, N. / Dong, H. et al. | British Library Online Contents | 2002

    Nach oben