Electrical properties and degradation phenomena of glass-doped ZnO chip varistors: Fid-Bau Portal

Electrical properties and degradation phenomena of glass-doped ZnO chip varistors

Lin, J. N. / Lin, C. M. / Kao, C. C. / Chang, W. C.

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Titel:

Electrical properties and degradation phenomena of glass-doped ZnO chip varistors

Beteiligte:

Lin, J. N. (Autor:in) / Lin, C. M. (Autor:in) / Kao, C. C. (Autor:in) / Chang, W. C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 20 ; 261

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

261 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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