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Material Testing by Computer Aided Speckle Interferometry

Wang, Y. Y. / Chen, D. J. / Chiang, F. P.

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Titel:

Material Testing by Computer Aided Speckle Interferometry

Beteiligte:

Wang, Y. Y. (Autor:in) / Chen, D. J. (Autor:in) / Chiang, F. P. (Autor:in)

Erschienen in:

EXPERIMENTAL TECHNIQUES ; 17 ; 30

Erscheinungsdatum:

01.01.1993

Format / Umfang:

30 pages

ISSN:

0732-8818

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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