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    Titel:

    A Nondestructive Radiowave Method of Measuring the Specific Resistance of Semiconductor Materials

    Beteiligte:

    Sidorin, Y. V. (Autor:in) / Sidorin, V. V. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INDUSTRIAL LABORATORY C/C OF ZAVODSKAIA LABORATORIIA ; 59 ; 169

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1993

    Format / Umfang:

    169 pages

    ISSN:

    0019-8447

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  607.2

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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