Dissipation of contact-electrified charge on thin Si-oxide studied by atomic force microscopy: Fid-Bau Portal

Dissipation of contact-electrified charge on thin Si-oxide studied by atomic force microscopy

Morita, S. / Fukano, Y. / Uchihashi, T. / Sugawara, Y.

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Titel:

Dissipation of contact-electrified charge on thin Si-oxide studied by atomic force microscopy

Beteiligte:

Morita, S. (Autor:in) / Fukano, Y. (Autor:in) / Uchihashi, T. (Autor:in) / Sugawara, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 75 ; 151

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

151 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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