Surface Investigations of Silylated Substrates by TOF-SIMS: Fid-Bau Portal

Surface Investigations of Silylated Substrates by TOF-SIMS

Hagenhoff, B. / Benninghoven, A. / Stoppek-Langner, K. / Grobe, J.

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Titel:

Surface Investigations of Silylated Substrates by TOF-SIMS

Beteiligte:

Hagenhoff, B. (Autor:in) / Benninghoven, A. (Autor:in) / Stoppek-Langner, K. (Autor:in) / Grobe, J. (Autor:in)

Erschienen in:

ADVANCED MATERIALS -DEERFIELD BEACH- ; 142

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

142 pages

ISSN:

0935-9648

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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