Electronic properties of nanometer-size metal-semiconductor point contacts studied by STM: Fid-Bau Portal

Electronic properties of nanometer-size metal-semiconductor point contacts studied by STM

Hasegawa, Y. / Lyo, I.-W. / Avouris, P.

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Titel:

Electronic properties of nanometer-size metal-semiconductor point contacts studied by STM

Beteiligte:

Hasegawa, Y. (Autor:in) / Lyo, I.-W. (Autor:in) / Avouris, P. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 76/77 ; 347

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

347 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 621.35

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