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    Titel:

    Residual Stress Analysis of Different Microstructures in Alumina Microelectronic Substrates

    Beteiligte:

    Ward, A. (Autor:in) / Venzant, K. L. (Autor:in) / Hendricks, R. W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    ADVANCES IN X RAY ANALYSIS ; 291

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1994

    Format / Umfang:

    291 pages

    ISSN:

    0376-0308

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  539.7222

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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