Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Preparation and characterization of semi-insulating 2 in InP wafers having a low Fe content by wafer annealing

    Neue Suche nach: Wolf, D.
    Neue Suche nach: Hirt, G.
    Neue Suche nach: Mosel, F.
    Neue Suche nach: Mueller, G.
    Neue Suche nach: Fornari, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Preparation and characterization of semi-insulating 2 in InP wafers having a low Fe content by wafer annealing

    Neue Suche nach: Wolf, D.
    Neue Suche nach: Hirt, G.
    Neue Suche nach: Mosel, F.
    Neue Suche nach: Mueller, G.
    Neue Suche nach: Fornari, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Preparation and characterization of semi-insulating 2 in InP wafers having a low Fe content by wafer annealing

    Neue Suche nach: Wolf, D.
    Neue Suche nach: Hirt, G.
    Neue Suche nach: Mosel, F.
    Neue Suche nach: Mueller, G.
    Neue Suche nach: Fornari, R.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Preparation and characterization of semi-insulating 2 in InP wafers having a low Fe content by wafer annealing

    Beteiligte:

    Wolf, D. (Autor:in) / Hirt, G. (Autor:in) / Mosel, F. (Autor:in) / Mueller, G. (Autor:in) / Fornari, R.

    Erschienen in:

    2nd International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies ; 115

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 28

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1994

    Format / Umfang:

    115 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers

    Zhao, Y. / Sun, N. / Dong, H. et al. | British Library Online Contents | 2002

    Resistivity Mapping of Semi-Insulating 6H-SiC Wafers

    Roth, M. D. / Heydemann, V. D. / Mitchel, W. C. et al. | British Library Online Contents | 2002

    Characterization of Power MESFETs on 4H-SiC Conductive and Semi-Insulating Wafers

    Noblanc, O. / Arnodo, C. / Chartier, E. et al. | British Library Online Contents | 1998

    Electrical and optical properties of semi-insulating InP obtained by wafer and ingot annealing

    Zappettini, A. / Fornari, R. / Capelletti, R. | British Library Online Contents | 1997

    Progress in the use of 4H-SiC semi-insulating wafers for microwave power MESFETs

    Noblanc, O. / Arnodo, C. / Dua, C. et al. | British Library Online Contents | 1999

    Nach oben