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Studies of deep-level defects at III-V heterointerfaces

Krispin, P.

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Titel:

Studies of deep-level defects at III-V heterointerfaces

Beteiligte:

Krispin, P. (Autor:in) / Fornani, R.

Erschienen in:

2nd International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies ; 387

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 28

Erscheinungsdatum:

01.01.1994

Format / Umfang:

387 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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