Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy studies of large-scale unstable growth formed during GaAs(001) homoepitaxy

    Neue Suche nach: Orme, C.
    Neue Suche nach: Johnson, M. D.
    Neue Suche nach: Leung, K. T.
    Neue Suche nach: Orr, B. G.
    Neue Suche nach: Mahajan, S.
    Neue Suche nach: Temkin, H.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy studies of large-scale unstable growth formed during GaAs(001) homoepitaxy

    Neue Suche nach: Orme, C.
    Neue Suche nach: Johnson, M. D.
    Neue Suche nach: Leung, K. T.
    Neue Suche nach: Orr, B. G.
    Neue Suche nach: Mahajan, S.
    Neue Suche nach: Temkin, H.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy studies of large-scale unstable growth formed during GaAs(001) homoepitaxy

    Neue Suche nach: Orme, C.
    Neue Suche nach: Johnson, M. D.
    Neue Suche nach: Leung, K. T.
    Neue Suche nach: Orr, B. G.
    Neue Suche nach: Mahajan, S.
    Neue Suche nach: Temkin, H.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy studies of large-scale unstable growth formed during GaAs(001) homoepitaxy

    Beteiligte:

    Orme, C. (Autor:in) / Johnson, M. D. (Autor:in) / Leung, K. T. (Autor:in) / Orr, B. G. (Autor:in) / Mahajan, S. / Temkin, H.

    Erschienen in:

    Workshop on Critical Issues in Epitaxy ; 143

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 30

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    143 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy

    Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1994

    Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

    Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1997

    Scanning Tunneling Microscopy, Atomic Force Microscopy, and Related Techniques

    S. R. Snyder / H. S. White | NTIS | 1992

    Advances in atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy

    Albrecht, Thomas Robert | TIBKAT | 1989

    Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers

    Sawada, D. / Hirai, A. / Sugimoto, Y. et al. | British Library Online Contents | 2009

    Nach oben