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    Titel:

    A new photoelastic procedure to determine SIF of mode I crack

    Beteiligte:

    Chen, Z. (Autor:in)

    Erschienen in:

    INTERNATIONAL JOURNAL OF FRACTURE ; 69 ; R89

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    R89

    ISSN:

    0376-9429

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Unbekannt

    Klassifikation:

    DDC:  620.1126

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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