Analysis of Doping in ZnSe and ZnSSe by Far-Infrared Reflectance under Oblique Incidence: Fid-Bau Portal

Analysis of Doping in ZnSe and ZnSSe by Far-Infrared Reflectance under Oblique Incidence

Hermans, J. / Offermann, V. / Woitok, J. / Geurts, J.

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Titel:

Analysis of Doping in ZnSe and ZnSSe by Far-Infrared Reflectance under Oblique Incidence

Beteiligte:

Hermans, J. (Autor:in) / Offermann, V. (Autor:in) / Woitok, J. (Autor:in) / Geurts, J. (Autor:in) / Heinrich, H. / Mullin, J. B.

Erschienen in:

II-VI Compounds and Semi-magnetic Semiconductors ; 73

MATERIALS SCIENCE FORUM

Erscheinungsdatum:

01.01.1995

Format / Umfang:

73 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

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