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    Titel:

    Defects in Porous Silicon: A Study With Optical and Spin Resonance Methodes

    Beteiligte:

    Hofmann, D. M. (Autor:in) / Meyer, B. K. (Autor:in) / Christmann, P. (Autor:in) / Wimbauer, T. (Autor:in) / Stadler, W. (Autor:in) / Nikolov, A. (Autor:in) / Scharmann, A. (Autor:in) / Hofstaetter, A. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 1673-1678

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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