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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Profiling the Deep Levels in SiGe/Si Microstructure by Small-Pulse Deep Level Transient Spectroscopy

    Beteiligte:

    Zhang, R. (Autor:in) / Yang, K. (Autor:in) / Qing, G. (Autor:in) / Shi, Y. (Autor:in) / Gu, S. (Autor:in) / Wang, R. (Autor:in) / Hu, L. (Autor:in) / Gao, W. (Autor:in) / Zheng, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE FORUM ; 485-490

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1995

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0255-5476

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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